LWM400JT芯片检查显微镜

LWM400JT芯片检查显微镜

主要技术参数：

1、三目镜筒：倾斜30 °，瞳距55mm-75mm，视度±5°

2、目镜：WF10X/18mm

3、长距平场消色差物镜(无盖玻片)

PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40

PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8

4、总放大倍数：50X-800X

5、载物台：尺寸: 280mm×270mm,移动范围: 204mm×204mm

6、调焦：粗微动同轴 升降范围25mm ,微动格值0.002mm

7、光 源：柯勒照明 滤色片座 可调卤素灯6V20W

8、正交偏光装置

LWM400JT芯片检查显微镜

选购件：

1、目镜：WF16X/11mm，WF20X/9mm，10X带尺可调目镜

2、长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (弹簧)、 PL L 100X/0.85 (弹簧)

平场消色差物镜(无盖玻片)： PL 100X/1.25  (弹簧,油)

3、摄像系统：数码摄像头130万或300万，数码相机

4、测量软件，金相分析软件等

用途：

芯片检查显微镜LWM400JT适用于对不透明物体的进行显微观察。配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。